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      SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

      SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

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      021-62956600
      產品介紹

      SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

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      測量參數

      • 量子效率
      • 亮度
      • 量子效率隨電流密度的曲線
      • 色坐標
      • 輻射通量,光通量
      • 主波長

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      應用領域

      • 無機電致發光
      • 有機電致發光
      • 分子薄膜EL器件

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      產品優勢

      • 體積小巧:便于靈活使用及運輸。
      • 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
      • 流程化操作:設備無需頻繁校準。

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      產品參數

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      系統配置
      配置方案 方案1?方案2
      光譜儀型號QEPro / QE65Pro(可選)
      光譜范圍(nm)350-1100
      信噪比1000:01:00
      分辨率2.5 nm (FWHM)
      動態范圍85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)
      AD位數18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
      積分球尺寸3.3”1.5”
      材質Spectralon
      源表Keithley2400
      光纖芯徑1000um(可更換其他芯徑)
      校準燈角度2 Pi?型號HL-3-INT-CAL
      亮度50 流明功率5W(電功率)
      無線遙控 通道數4無遙控
      軟件SpectrumTEQ-EL專用軟件

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      性能參數:

      測試范圍(依配置決定)亮度0.01-2*10 nit6
      通量5*10-6-300 lm
      輻射亮度0.02-2*106mW/Sr/m2
      輻射通量1*10-5-650mW
      亮度重復性>98%
      主波長重復性0.5 nm
      光致量子效率測試結果重復性5%
      電致量子效率測試結果重復性2%

      注:以上測試樣品為標準朗伯體測試結果。

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